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测试和测量

时间:2017-03-06      来源:苏州迪森特      关键词:苏州迪森特      浏览量:755
结构测试
测试结构的变形

用于测试结构变形的传感器有两种常用类型,即应变仪和位移传感器。
二者在结构性测试中各有所长,使用 Solartron Metrology 多通道数据处理系统 Orbit®还可将二者结合使用。


                 
自由中心 LVDT 传感器是可用于测试变形并恢复已加压结构的理想之选。

组成传感器的两个部件之间没有摩擦。传感器实际上不会给恢复测量带去磁滞影响。传感器不会受结构的冲击负载影响。

在此需要考虑芯和载体的自重,但是,就结构的大小或传感器的大小而言影响通常很小。

作为位移传感器,在断电后会给出其位置,这在长期测试过程中极有助益。




测试容器的变形

通过将电线的一端固定并绕在一个容器上,另一端附着在位移传感器的芯上。容器在尺寸上的任何变化都与传感器芯的位置相关。




来自压力传感器和位移传感器的输出值可采集到 Orbit® 网络或 SI 3300 系列显示/控制器。